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當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 物理光學(xué)儀器 > 熔點(diǎn)儀 > SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀 上海儀電
簡(jiǎn)要描述：應(yīng)用范圍：測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。
產(chǎn)品型號(hào)：SGW X-4B
廠商性質(zhì)：其他
更新時(shí)間：2018-06-08
訪 問(wèn) 量：3557
產(chǎn)品分類
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性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃
zui小讀數(shù)：0.1℃
測(cè)量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）
±2℃（在200～300℃時(shí)）
配雙目體視顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù)：40X-100X連續(xù)可調(diào)
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