薄層色譜掃描儀計算方程

 

　　用于定量的薄層色譜儀稱為薄層色譜掃描儀，或薄層色譜光密度計，用這種儀器對薄層上被分離的物質進行直接定量的方法稱薄層色譜掃描法。目前各國生產的薄層色譜儀規(guī)格不同，性能各異，但其基本測定原理是一樣的，即用一束長寬可以調節(jié)的一定波長、一定強度的光照射到薄層斑點上進行整個斑點的掃描，用儀器測量通過斑點或被斑點反射的光束強度的變化從而達到定量的目的。

 

　　但是薄層是由許多細小顆粒組成的半透明物體，光照射到薄層表面，除透射光、反射光外，還有相當多的散射光，因此與光照透明溶液不同，樣品量與測得值之間呈非線性關系，特別在高濃度區(qū)，這樣就給定量工作帶來困難，為此有以下三種途徑來解決薄層上的定量間題。薄層色譜掃描儀具有線性化器，其工作原量即根據(jù)Kubelka-Mimk方程式用電路系統(tǒng)將彎曲的曲線校正為直線，用校正后的直線進行定量。

 

　　a．選取曲線中的直線部分用于定量分析在低濃度范圍內，樣品量與測得值間可存在線性關系，此法簡便，也是在沒有線性化功能的薄層色譜儀上常用的方法，但由于線性濃度范圍有限。

 

　　b.光照到散射物質表面，光的行為比較復雜，Kubelka及Munk從理論上推導出簡化的方程式，現(xiàn)應用于薄層掃描。從實用角度解釋光照到薄層上的變化情況。

 

　　c．利用非線性方程定量

 

　　利用計算機先求出非線性方程，然后在測定樣品時將測定值輸入計算機，由此方程求出樣品濃度。根據(jù)此原理進行測定，并認為這種方法更為合理，測定值更準確可靠。